Eines unserer wichtigsten Diensleistungsangebote ist die Charakterisierung optischer Dünnschichten und Dünnschichtsystemen. Wir messen für Sie die wichtigsten Parameter Ihrer Einzelschichten: die Dispersionskurve (spektraler Brechzahlverlauf) die Materialdämpfung oder die mechanische Dicke Ihrer Schicht.

Auch die Dispersionskurve Ihrer Substratmaterialien sowie das spektrale Transmissions- und Reflexionsverhalten Ihrer Schichtsysteme können wir vermessen. Für diese Messaufgaben setzen wir einen Metricon-Prismenkoppler (M-Line Spektroskopie) ein Reflexionsspektrometer sowie Spektralphotometer und optische Spektrumanalysatoren ein.

Messverfahren

• M-Line Spektroskopie mit einem Prismenkoppler
  (Dicke, Brechzahl, Dämpfung)
• Spektroskopie von Schichten
  (Reflexion, Transmission)
• Röntgenbeugungsmethoden
  (Dicke, Dichte, Rauheit)